*實(shí)驗(yàn)室恒溫恒濕老化箱 容積80L

1.溫度范圍：-20℃～150℃(D)

2.濕度范圍：20%～98%R.H　　

3.溫度均勻度：≤±2℃ （空載時(shí)）

4.濕度均勻度：+2% -3%R.H

5.溫度波動(dòng)度：≤±0.5℃ （空載時(shí)）

6.濕度波動(dòng)度：±2%

7.溫度偏差：≤±2℃

8.濕度偏差：≤±2%

9.降溫速率：0.7～1.0℃/min

10.升溫速率：1.0～3.0℃/min

11.時(shí)間設(shè)定范圍：0～999 小時(shí)

加熱,加濕，除濕系統(tǒng)

1.加熱采用加熱絲加熱、執(zhí)行元件采用固態(tài)繼電器；加濕采用水蒸發(fā)方式加濕器（外加濕），配有斷水保護(hù)器，水位自動(dòng)控制器，自動(dòng)上水裝置。除濕采用凝露法,裝有除濕蒸發(fā)器,使工作室內(nèi)空氣中的水蒸汽在除濕蒸發(fā)器上凝露成水,排出箱外,降低工作室的相對(duì)濕度。

2.濕度傳感器采用進(jìn)口電容式傳感器，相比“干濕球"方法，由于無(wú)需為濕球補(bǔ)水系統(tǒng)、水質(zhì)等問(wèn)題擔(dān)憂(yōu)而且不必頻繁更換紗套因此更適合與做長(zhǎng)時(shí)間的溫濕度試驗(yàn)。

*實(shí)驗(yàn)室恒溫恒濕老化箱 容積80L

可程式恒溫恒濕試驗(yàn)箱主要是針對(duì)于電工、電子產(chǎn)品，塑膠材料、紙品印刷、金屬、原器件及其它材料在高溫、低溫、濕熱的環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)。該試驗(yàn)設(shè)備主要用于對(duì)產(chǎn)品按照國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)要求或用戶(hù)自定要求，在低溫、高溫、高溫高濕條件下，對(duì)產(chǎn)品的物理以及其他相關(guān)特性進(jìn)行環(huán)境模擬測(cè)試，測(cè)試后，通過(guò)檢測(cè)，來(lái)判斷產(chǎn)品的性能，是否仍然能夠符合預(yù)定要求，以便供產(chǎn)品設(shè)計(jì)、改進(jìn)、鑒定及出廠檢驗(yàn)用。

產(chǎn)品規(guī)格(單位：mm)

1）規(guī)格：100升

型號(hào)SMA-100PF 工作室尺寸:D×W×H 400×500×500 外形尺寸1120×720×1510
2）規(guī)格：225升

SMA-225PF 工作室尺寸:D×W×H 600×500×750立式外形尺寸1320×770×1800
3）規(guī)格：408升

型號(hào):THA-408PF 工作室尺寸:D×W×H 800×600×850外形尺寸1390×1100×1890
4）規(guī)格：800升

型號(hào):THA-800PF 工作室尺寸:D×W×H 800×1000×1000外形尺寸1390×1500×1910
5）規(guī)格：1000升

型號(hào):THA-010PF 工作室尺寸:D×W×H 1000×1000×1000外形尺寸1590×1500×1910

可根據(jù)要求做更低的濕度，我們叫低溫低濕試驗(yàn)箱。

皓天設(shè)備的恒溫恒濕試驗(yàn)箱溫度范圍分為五個(gè)點(diǎn)：ABCDE，其中：A:0℃~+150℃  B:-20℃~+150℃  C:-40℃~+150℃   D:-60℃~+150℃  E:-70℃~+150℃

內(nèi)箱容積：從小型22L、36L、80L、150L、225L、408L、800L、1000L等等標(biāo)準(zhǔn)機(jī)型，用戶(hù)可以根據(jù)自身的要求定做，皓天設(shè)備滿(mǎn)足用戶(hù)要求

箱制造標(biāo)準(zhǔn)：

　　GB10589-89低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

　　GB10592-89高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

　　GB10586-89濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件

　　GB11158-89高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

　　GB/T5170、2-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗(yàn)設(shè)備

　　GB/T5170、5-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法濕熱試驗(yàn)設(shè)備

　　GB2423、1-89電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法

　　GB2423、2-89電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法

　　GB2423、3-91電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Ca:恒定濕熱試驗(yàn)方法

　　GB2424、1-89電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程高溫低溫試驗(yàn)導(dǎo)則

環(huán)境條件參數(shù)的可測(cè)控性
任何一臺(tái)環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備所提供的環(huán)境條件必須是可觀測(cè)的和可控制的，可程式恒溫恒濕試驗(yàn)箱 這不僅是為了使環(huán)境參數(shù)限制在一定的容差范圍之內(nèi)，保
證試驗(yàn)條件的再現(xiàn)性和重復(fù)性的要求，而且從產(chǎn)品試驗(yàn)的安全出發(fā)也是必須的，可程式恒溫恒濕試驗(yàn)箱 以便防止環(huán)境條件失控導(dǎo)致被試產(chǎn)品的損壞，帶來(lái)不必要的損失。
目前各種試驗(yàn)規(guī)范中大體要求參數(shù)測(cè)試的精度不應(yīng)低于試驗(yàn)條件允許的誤差的三分之一。