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        產(chǎn)品列表PRODUCTS LIST

        芯片溫度測(cè)試變化試驗(yàn)箱

        型號(hào):TEB-255PF

        瀏覽量:2050

        更新時(shí)間:2025-05-16

        價(jià)格:45980

        簡(jiǎn)要描述:

        芯片溫度測(cè)試變化試驗(yàn)箱
        可為用戶檢驗(yàn)、檢測(cè)電子電工元器件、零配件
        或相關(guān)行業(yè)的實(shí)驗(yàn)部門提供一個(gè)模擬環(huán)境,為
        測(cè)試數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性和一致性(可重復(fù))提供*條件。

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        芯片溫度測(cè)試變化試驗(yàn)箱
        品牌HT/皓天價(jià)格區(qū)間2萬(wàn)-5萬(wàn)
        產(chǎn)地類別國(guó)產(chǎn)應(yīng)用領(lǐng)域電子/電池,航空航天,制藥/生物制藥,汽車及零部件,電氣

        芯片溫度測(cè)試變化試驗(yàn)箱

         

        升溫時(shí)間(平均/min)

        非線性升溫速率(5℃/10℃/15℃/20℃/25℃)線性升溫速率(5℃/10℃/15℃/20℃)

        降溫時(shí)間(平均/min)

        非線性降溫速率(5℃/10℃/15℃/20℃/25℃)線性降溫速率(5℃/10℃/15℃/20℃)

         

        芯片溫度測(cè)試變化試驗(yàn)箱

         

        1 、 試驗(yàn)箱結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)新穎合理,配套產(chǎn)品和功能元器件具有較高水平,能夠適 應(yīng)長(zhǎng)期、穩(wěn)定、安全、可靠的生產(chǎn)需求。能夠滿足用戶為從事上述用途的加工生產(chǎn)要 求,且使用、操作、維修方便,使用壽命長(zhǎng),造型美觀,有良好的用戶界面,使用戶的操作和監(jiān)測(cè)都更加簡(jiǎn)單和直觀。

        2、 設(shè)備主要部件選用國(guó)際品牌廠家的產(chǎn)品,確保整機(jī)的質(zhì)量和性能。

        3 、 設(shè)備性能完善、人機(jī)對(duì)話功能簡(jiǎn)便易操作。

        4、擁有自主知識(shí)產(chǎn)權(quán)和外觀設(shè)計(jì)以及掌握環(huán)境試驗(yàn)箱核心技術(shù)

        5、控制儀表采用日本*"優(yōu)易控"UMC1200,可實(shí)行遠(yuǎn)程監(jiān)控

        6、制冷系統(tǒng)采用法國(guó)原裝泰康壓縮機(jī)組,并配有凝結(jié)水接水盤

        7、核心電氣元器件均采用施耐德等

        8、沿襲國(guó)外環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備*設(shè)計(jì)理念,水電分離

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